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我公司參加2020廣東省水泥與混凝土行業(yè)聯(lián)合年會(huì )
發(fā)布時(shí)間:2020-09-21

2020年是不平凡的一年,突如其來(lái)的疫情,給廣東經(jīng)濟發(fā)展帶來(lái)了不利影響,隨著(zhù)疫情的有效控制,復工復產(chǎn)的有序推進(jìn),行業(yè)經(jīng)濟運行呈逐步恢復和穩步增長(cháng)的態(tài)勢,為研判我省的經(jīng)濟走向,把握行業(yè)的發(fā)展趨勢,特定于2020年09月23日在廣州召開(kāi)全省水泥與混凝土聯(lián)合年會(huì )。我司熒光儀作為*的分析...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-08-02

    鄰苯類(lèi)化合物的使用因其潛在的環(huán)境污染和健康風(fēng)險而備受關(guān)注,ROHs2.0鄰苯快速檢測技術(shù)在這一背景下應運而生,并在電子產(chǎn)品制造中發(fā)揮著(zhù)重要作用。一、ROHs2.0鄰苯快速檢測是一種采用化學(xué)分析方法對電子產(chǎn)品制造過(guò)程中使用的材料進(jìn)行鄰苯含量檢測的技術(shù)。這種技術(shù)能夠在短時(shí)間內準確測定樣品中的鄰苯含量,為企業(yè)的生產(chǎn)決策提供有力支持。二、電子產(chǎn)品制造中的應用材料采購與驗收:在電子產(chǎn)品制造過(guò)程中,各種塑料、橡膠和涂料等材料是重要的組成部分。這些材料中可能含有鄰苯類(lèi)化合物,對人體和環(huán)境造...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-07-16

    元素檢測在材料科學(xué)、環(huán)境監測、生物醫學(xué)等領(lǐng)域中的應用越來(lái)越廣泛。WDX波長(cháng)色散元素分析儀作為一種高效、準確的元素檢測工具,受到了廣泛關(guān)注。一、了解儀器原理與結構先要深入了解工作原理和結構組成。該儀器通過(guò)測量物質(zhì)中各元素的特征X射線(xiàn)波長(cháng),實(shí)現對元素的定性和定量分析。了解儀器的基本構造,有助于更好地掌握操作方法和技巧。二、樣品制備與處理在進(jìn)行元素檢測前,樣品的制備和處理至關(guān)重要。根據待測元素的性質(zhì)和含量,選擇合適的樣品制備方法。同時(shí),要確保樣品處理過(guò)程中不引入干擾元素,以免影響檢...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-07-09

    快速熱裂解RoHS檢測儀是一種專(zhuān)門(mén)用于檢測電子電氣產(chǎn)品中RoHS指令限制物質(zhì)的設備。為了確保設備的準確性和可靠性,對其進(jìn)行定期的校準和維護是至關(guān)重要的。一、校準指南校準目的:校準快速熱裂解RoHS檢測儀的主要目的是確保其測量精度和穩定性,從而獲得準確的檢測結果。校準周期:根據設備的使用頻率和環(huán)境條件,建議每半年進(jìn)行一次校準。對于使用頻率較高的設備,應適當縮短校準周期。校準方法:校準通常采用標準物質(zhì)法。先準備一組已知濃度的RoHS指令限制物質(zhì)的標準物質(zhì);然后,將標準物質(zhì)放入設備...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-06-12

    鍍層測試儀是一種用于測量和分析金屬鍍層厚度和成分的精密儀器,它在電鍍、化學(xué)鍍、噴涂等表面處理行業(yè)中具有廣泛的應用。一、工作原理鍍層測試儀主要基于X射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)(XRF)或電渦流測量技術(shù)。以下是這兩種工作原理的簡(jiǎn)要介紹:X射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)(XRF):當X射線(xiàn)照射到金屬鍍層表面時(shí),鍍層中的元素會(huì )激發(fā)出特征X射線(xiàn)。通過(guò)檢測這些特征X射線(xiàn)的能量和強度,可以確定鍍層中各元素的含量,進(jìn)而計算出鍍層的厚度。XRF技術(shù)具有非破壞性、快速、準確等優(yōu)點(diǎn)。電渦流測量技術(shù):電渦流測量技術(shù)...

  • 發(fā)布時(shí)間:2024-06-06

    薄膜技術(shù)在科技領(lǐng)域中扮演著(zhù)舉足輕重的角色,尤其是在電子、光學(xué)、包裝等領(lǐng)域。薄膜的厚度不僅影響其性能。因此,準確測量和分析薄膜厚度成為薄膜制備和加工過(guò)程中的關(guān)鍵環(huán)節。膜厚分析儀作為一種專(zhuān)業(yè)的測量工具,在這一過(guò)程中發(fā)揮著(zhù)不可替代的作用。一、工作原理主要基于光學(xué)干涉、X射線(xiàn)熒光、β衰減等原理進(jìn)行薄膜厚度的測量。其中,光學(xué)干涉法是常用的測量手段。該方法通過(guò)測量光在薄膜上下表面反射后形成的干涉條紋,計算出薄膜的厚度。這種方法具有非接觸性、高精度和無(wú)損檢測等優(yōu)點(diǎn)。二、應用場(chǎng)景薄膜制備過(guò)程...

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